- Titre
- Simple characterization of complex stacking of semiconductors through near field imaging and spectroscop
- Créateurs - sans rôle
- Laure Tailpied - Université Paris-SaclayClément Gureghian - Institut des NanoSciences de ParisFrédéric Fossard - Laboratoire d'Étude des MicrostructuresJean-Sébastien Mérot - Université Paris-SaclayGrégory Vincent - Université Paris-SaclayThierry Talierco - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESBaptiste Fix - Université Paris-Saclay
- Colloque
- Metamaterials 2025 (Amsterdam, Netherlands, 01/09/2025–06/09/2025)
- Identifiants
- 99200496509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- Anglais
- Type de ressource
- Acte de colloque
- Champs locaux
- hal-05540758
Acte de colloque
Simple characterization of complex stacking of semiconductors through near field imaging and spectroscop
Metamaterials 2025 (Amsterdam, Netherlands, 01/09/2025–06/09/2025)
09/2025
Indicateurs
1 Consultations de la notice