Silicon versus III-V semiconductor material choice for terahertz imaging with nanometerfield effect transistors based detectors

Acte de colloque

Wojciech Knap, Dominique Coquillat, Nina Diakonova et Frederic Teppe

5th Int. Conference on Materials Science and Condensed Matter Physics MSCMP 2010 (Moldova, 13/09/2010)

Résumé

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Titre: Silicon versus III-V semiconductor material choice for terahertz imaging with nanometerfield effect transistors based detectors
Créateurs - sans rôle: Wojciech Knap - Groupe d'étude des semiconducteurs
Dominique Coquillat - Groupe d'étude des semiconducteurs
Nina Diakonova - Groupe d'étude des semiconducteurs
Frederic Teppe - Groupe d'étude des semiconducteurs
Colloque: 5th Int. Conference on Materials Science and Condensed Matter Physics MSCMP 2010 (Moldova, 13/09/2010)
Identifiants: 9939083209311
Unité académique: Université de Montpellier
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-00811771