- Titre
- Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Colloque
- VARI: Workshop on CMOS Variability (Montpellier, France, 2010)
- Identifiants
- 99151669109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553626
Acte de colloque
Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells
VARI: Workshop on CMOS Variability (Montpellier, France, 2010)
26/05/2010
Indicateurs
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