- Titre
- Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology
- Créateurs - sans rôle
- Stephan de Castro - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMGiorgio Di Natale - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- TRUDEVICE Workshop (Saint-Malo, France, 17/09/2015)
- Identifiants
- 9944851509311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-01234094
Acte de colloque
Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology
TRUDEVICE Workshop (Saint-Malo, France, 17/09/2015)
2015
Indicateurs
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