- Titre
- Scan Pattern Watermarking
- Créateurs - sans rôle
- David Hely - STMicroelectronics [Rousset]Frédéric Bancel - STMicroelectronics [Rousset]Marie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, pp.63-67
- Colloque
- LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop (Buenos Aires, 26/03/2006–29/03/2006)
- Identifiants
- 9944558209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00102753
Acte de colloque
Scan Pattern Watermarking
LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, pp.63-67
LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop (Buenos Aires, 26/03/2006–29/03/2006)
2006
Indicateurs
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