Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

Acte de colloque

Open Access

David Hely, Frédéric Bancel, Marie-Lise Flottes et Bruno Rouzeyre

SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics (Sophia-Antipolis, France, 05/10/2005–06/10/2005)

2005

Résumé

SAMRTCARDS

SECURITE

TEST

Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together

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Titre: Scan Design and Secure Chips : Can They Work Together
Créateurs - sans rôle: David Hely - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Frédéric Bancel - STMicroelectronics [Crolles]
Marie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Bruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Colloque: SAME'05: Sophia-Antipolis Forum on MicroElectronics (Sophia-Antipolis, France, 05/10/2005–06/10/2005)
Identifiants: 9947687509311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00106546