Réflectométrie de Rayons-X en incidence rasante

Acte de colloque

Arie Van-Der-Lee

Colloque de l'Association Tunisienne de Cristallographie (Bizerte, Tunisia, 18/03/2009–20/03/2009)

19/03/2009

Résumé

Présentation de la technique de réflectométrie de rayons-X

url

Find in HALAfficher

1 Consultations de la notice

Titre: Réflectométrie de Rayons-X en incidence rasante
Créateurs - sans rôle: Arie Van-Der-Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
Colloque: Colloque de l'Association Tunisienne de Cristallographie (Bizerte, Tunisia, 18/03/2009–20/03/2009)
Identifiants: 9942250409311
Unité académique: Institut Européen des Membranes - IEM
Langue: French
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-00450950