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Réflectomètre THz pour la caractérisation de matériaux
Acte de colloque

Réflectomètre THz pour la caractérisation de matériaux

A. Bassli, A. Pénarier, S. Blin et P. Nouvel
15ème Journées Nano, Micro et Optoélectronique (Les Issambres, France, 2016)

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