- Titre
- Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture
- Créateurs - sans rôle
- Ahn Duc Tran - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesHans-Joachim Wunderlich - Institut für Technische Informatik
- Colloque
- JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Paris, France)
- Identifiants
- 99151947509311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00679509
Acte de colloque
Robustness Improvement of Digital Circuits A New Hybrid Fault Tolerant Architecture
JNRDM'11: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (Paris, France)
23/05/2011
Indicateurs
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