- Titre
- Review and analysis of the radiation induced degradation observed on the input bias current of linear integrated circuits
- Créateurs - sans rôle
- Laurent Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESM. Bernard - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESY. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESN. Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 45th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Tucson, United States, 2008)
- Identifiants
- 9963823309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01822450
Acte de colloque
Review and analysis of the radiation induced degradation observed on the input bias current of linear integrated circuits
45th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Tucson, United States, 2008)
Indicateurs
1 Consultations de la notice