- Titre
- Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window
- Créateurs - sans rôle
- Olivier Ginez - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMJean-Michel Daga - Atmel CorporationPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, pp.47-52
- Colloque
- VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium (Berkeley, CA (USA), 06/05/2007–10/05/2007)
- Identifiants
- 9947031709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00151034
Acte de colloque
Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, pp.47-52
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium (Berkeley, CA (USA), 06/05/2007–10/05/2007)
2007
Indicateurs
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