- Titre
- Resistive-Open Defects Affecting Bit-Line Selection in TAS-MRAM Architectures
- Créateurs - sans rôle
- João Azevedo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAida Todri-Sanial - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (Paris, France, 2012)
- Identifiants
- 9942690509311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00806827
Acte de colloque
Resistive-Open Defects Affecting Bit-Line Selection in TAS-MRAM Architectures
JNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (Paris, France, 2012)
2012
Indicateurs
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