- Titre
- Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison Between 0.13 um and 90 nm Technologies
- Créateurs - sans rôle
- Luigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
- Détails de publication
- 42nd Design Automation Conference, pp.857-862
- Colloque
- DAC: Design Automation Conference (Anaheim, CA, United States, 13/06/2005–17/06/2005)
- Identifiants
- 9944668809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00136906
Acte de colloque
Resistive-Open Defect Injection in SRAM Core-Cell: Analysis and Comparison Between 0.13 um and 90 nm Technologies
42nd Design Automation Conference, pp.857-862
DAC: Design Automation Conference (Anaheim, CA, United States, 13/06/2005–17/06/2005)
2005
Indicateurs
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