- Titre
- Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry
- Créateurs - sans rôle
- Alexandre Ney - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMagali Bastian Hage-Hassan - Infineon Technologies France
- Colloque
- Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)
- Identifiants
- 9944489209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00194282
Acte de colloque
Resistive-Open Defect Influences in SRAM I/O Circuitry
Colloque du GDR SoC-SiP (Paris, France, 13/06/2007–15/06/2007)
2007
Indicateurs
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