Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies

Acte de colloque

I. Polian, Kundu Sandip, Jean-Marc J.-M. Galliere, P. Engelke, Michel Renovell et P. Becker

VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, pp.343-348

VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (Palm Springs, CA (USA), 01/05/2005–05/05/2005)

2005

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Titre: Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies
Créateurs - sans rôle: I. Polian
Kundu Sandip
Jean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
P. Engelke
Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
P. Becker
Détails de publication: VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium, pp.343-348
Colloque: VTS'05: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (Palm Springs, CA (USA), 01/05/2005–05/05/2005)
Identifiants: 9936192409311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00105997