Résumé
Investigation on intra-die variability and radiation-induced SEL in a COTS SRAM memory flying on Proba-V + Flight data analysis of SEL in a COTS Samsung SRAM and comparison with SEE test results
- Titre
- Radiation-induced SEL in a COTS SRAM memory - test and flight data
- Créateurs - sans rôle
- Douglas Almeida dos Santos - Institut d'Électronique et des SystèmesLucas Matana Luza - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTemsAndré Martins Pio de Mattos - Institut d'Électronique et des SystèmesThomas Borel - European Space Research and Technology CentreViyas Gupta - European Space Research and Technology CentreLuigi Dilillo - Institut d'Électronique et des Systèmes
- Colloque
- TEC-QEC Final Presentation Days (Noordwijk, Netherlands, 28/06/2023)
- Identifiants
- 9945925909311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-04295893