- Titre
- Quantitative mapping of the dielectric constant of thin insulating layers at nanoscale
- Créateurs - sans rôle
- Clément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseGérard Leveque - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESGustavo Ariel Schwartz - Centro de FísicaAngel Alegría - University of the Basque CountryJuan Colmenero - University of the Basque Country
- Colloque
- Perspectives in Nanoscience and Nanotechnology – Nano2009 (San Sebastian, Spain, 09/2009)
- Identifiants
- 9947121809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01813997
Acte de colloque
Quantitative mapping of the dielectric constant of thin insulating layers at nanoscale
Perspectives in Nanoscience and Nanotechnology – Nano2009 (San Sebastian, Spain, 09/2009)
Indicateurs
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