- Titre
- Quantitative determination of the local dielectric permittivity of ultrathin films at Nanoscale by means of Electrostatic Force Microscopy
- Créateurs - sans rôle
- Clément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseGustavo Ariel Schwartz - Centro de FísicaD. G. de Oteyza - Donostia International Physics CenterAngel Alegría - University of the Basque CountryMichel Ramonda - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJuan Colmenero - University of the Basque CountryGérard Leveque - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- XI International Scanning Probe Microscopy Conference (Madrid, Spain, 06/2009)
- Identifiants
- 9963618409311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01814008
Acte de colloque
Quantitative determination of the local dielectric permittivity of ultrathin films at Nanoscale by means of Electrostatic Force Microscopy
XI International Scanning Probe Microscopy Conference (Madrid, Spain, 06/2009)
Indicateurs
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