- Titre
- Quantitative Dielectric Mapping of Nano-structured Systems by Means of Electrostatic Force Microscopy
- Créateurs - sans rôle
- Gustavo Ariel Schwartz - Centro de FísicaRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESClément Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPhilippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de ToulouseAngel Alegría - University of the Basque CountryJuan Colmenero - University of the Basque Country
- Colloque
- The 12th International Scanning Probe Microscopy (ISPM) Conference (Sapporo, Japan, 05/2010)
- Identifiants
- 9947123309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01813969
Acte de colloque
Quantitative Dielectric Mapping of Nano-structured Systems by Means of Electrostatic Force Microscopy
The 12th International Scanning Probe Microscopy (ISPM) Conference (Sapporo, Japan, 05/2010)
Indicateurs
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