- Titre
- Power: The New Dimension of Test
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Colloque
- IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (Sapporo, Japan)
- Identifiants
- 9947505709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00406964
Acte de colloque
Power: The New Dimension of Test
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (Sapporo, Japan)
27/11/2009
Indicateurs
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