- Titre
- Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test
- Créateurs - sans rôle
- Ziad Noun - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierPhilippe Cauvet - Philips France SemiconducteursMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesDavid Andreu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMJérôme Galy - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, pp.165-170
- Colloque
- LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop (Puebla, Mexico, 20/03/2008)
- Identifiants
- 9944878609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00260205
Acte de colloque
Power Supply Investigation for Wireless Wafer Test
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, pp.165-170
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop (Puebla, Mexico, 20/03/2008)
17/03/2008
Indicateurs
1 Consultations de la notice