- Titre
- Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
- Créateurs - sans rôle
- Fangmei Wu - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesXiaoqing Wen - Kyushu Institute of Technology
- Détails de publication
- 3rd International Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability
- Colloque
- LPonTR: Impact of Low-Power design on Test and Reliability (Prague, Czech Republic, 27/05/2010–28/05/2010)
- Identifiants
- 99151669609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00553930
Acte de colloque
Power Reduction Through X-filling of Transition Fault Test Vectors for LOS Testing
3rd International Workshop on
Impact of Low-Power design on Test and Reliability
LPonTR:
Impact of Low-Power design on Test and Reliability (Prague, Czech Republic, 27/05/2010–28/05/2010)
27/05/2010
Indicateurs
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