- Titre
- Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNicola Nicolici - Department of Electrical and Computer Engineering [Hamilton]Xiaoqing Wen - Kyushu Institute of Technology
- Détails de publication
- 18th IEEE Asian Test Symposium
- Colloque
- ATS: Asian Test Symposium (Taichung, Taiwan, 23/11/2009–26/11/2009)
- Identifiants
- 9946859909311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00820650
Acte de colloque
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
18th IEEE Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium (Taichung, Taiwan, 23/11/2009–26/11/2009)
23/11/2009
Indicateurs
1 Consultations de la notice