- Titre
- Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core
- Créateurs - sans rôle
- Nabil Badereddine - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMZhanglei Wang - Department of Electrical and Computer Engineering [Durham]Patrick Girard - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesKrishnendu Chakrabarty - Department of Electrical and Computer Engineering [Durham]Arnaud Virazel - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesSerge Pravossoudovitch - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Détails de publication
- ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium, pp.5-10
- Colloque
- ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium (Fukuoka, Japan, 20/11/2006–23/11/2006)
- Identifiants
- 9946415309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00116832
Acte de colloque
Power-Aware Test Data Compression for Embedded IP Core
ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium, pp.5-10
ATS 2006 - 15th IEEE Asian Test Symposium (Fukuoka, Japan, 20/11/2006–23/11/2006)
2006
Indicateurs
1 Consultations de la notice