- Titre
- Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction
- Créateurs - sans rôle
- Nabil Badereddine - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, pp.441-446
- Colloque
- VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration (Perth, Australia, 17/10/2005–19/10/2005)
- Identifiants
- 9946175609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00106112
Acte de colloque
Power-Aware Scan Testing for Peak Power Reduction
VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration, pp.441-446
VLSI-SOC'05: IFIP International Conference on Very Large Scale Integration (Perth, Australia, 17/10/2005–19/10/2005)
2005
Indicateurs
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