Résumé
En vue d’études ultérieures sur de nouvelles couches d’alignement, nous nous intéressons àcaractériser les phénomènes de dynamique de réorientation locale d’un nématique sur unsubstrat bien connu : SiO évaporé à 60° sur lames ITO/verre donnant un ancrage planaire.Les défauts topologiques ±1/2 apparaissant dans la phase nématique du 5CB lors de sanucléation dans la phase isotrope relaxent spontanément en l’absence de tension appliquée[1].L’application d’un champ électrique valant environ 2 fois le champ seuil de Freederickszprévient cette relaxation. Les lignes de défauts, soumis à une force résultante très faible, sontalors très sensibles à l’état de surface du substrat et permettent de sonder localement ladynamique de réorientation locale du cristal liquide à la surface du substrat. L’étude envideo-microscopie de cette dynamique nous a permis de mettre en évidence des phénomènescomplexes s’apparentant aux phénomènes de piégeage-dépiégeage d’un objet élastique dansun paysage énergétique aléatoire.A travers l’étude en champ nul de la relaxation de « boucles de désorientation » inscrites surles substrats par le déplacement forcé des défauts ±1/2 sous champ, nous avons montré queces phénomènes se traduisaient par l’existence d’une force de friction solide macroscopiqueF0. Nous discuterons des origines microscopiques d’une telle force.[1] A. Bogi, P. Martinot-Lagarde, I. Dozov, and M. Nobili, Phys. Rev. Lett. 89, 225501-1 (2002).