- Titre
- Physical Low Frequency Noise Sources Associated to Drain and Gate Currents of Ultrathin Gate oxide on n-MOSFETs
- Créateurs - sans rôle
- Frédéric Martinez - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierGuillaume Neau - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierMatteo Valenza - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierJ.C. Vildeuil - STMicroelectronics
- Colloque
- Ultimate integration on silicon (Grenoble, France, 2006)
- Identifiants
- 9942986709311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-02066884
Acte de colloque
Physical Low Frequency Noise Sources Associated to Drain and Gate Currents of Ultrathin Gate oxide on n-MOSFETs
Ultimate integration on silicon (Grenoble, France, 2006)
Indicateurs
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