- Titre
- Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution
- Créateurs - sans rôle
- Nabil Badereddine - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.151-159
- Colloque
- DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Sopron, Hungary, 13/04/2005–16/04/2005)
- Identifiants
- 9946049009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00105990
Acte de colloque
Peak Power Consumption During Scan Testing: Issue, Analysis and Heuristic Solution
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, pp.151-159
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (Sopron, Hungary, 13/04/2005–16/04/2005)
2005
Indicateurs
1 Consultations de la notice