- Titre
- Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric
- Créateurs - sans rôle
- Junxia Ma - University of ConnecticutJeremy Lee - University of ConnecticutNisar Ahmed - Texas InstrumentPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMohammad Tehranipoor - University of Connecticut
- Détails de publication
- GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, pp.127-130
- Colloque
- GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI (United States)
- Identifiants
- 9946460609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00618748
Acte de colloque
Pattern Grading for Testing Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Using a Layout-Aware Quality Metric
GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI, pp.127-130
GLSVLSI'10: IEEE Great Lake Symposium on VLSI (United States)
2010
Indicateurs
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