- Titre
- Oral : "Principes de base de réflectométrie RX et application à l'analyse de la porosité"
- Créateurs - sans rôle
- A. van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
- Colloque
- Colloque "Techniques innovantes de caractérisation optique microstructurale de couches minces" - April 2005 (Montpellier, France, 2005)
- Identifiants
- 9942686909311
- Unité académique
- Institut Européen des Membranes - IEM
- Langue
- French
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-00081816
Acte de colloque
Oral : "Principes de base de réflectométrie RX et application à l'analyse de la porosité"
Colloque "Techniques innovantes de caractérisation optique microstructurale de couches minces" - April 2005 (Montpellier, France, 2005)
2005
Indicateurs
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