- Titre
- Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
- Créateurs - sans rôle
- Leonardo B. Zordan - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Colloque
- GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France)
- Identifiants
- 9947786609311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00679522
Acte de colloque
Optimized March Test Flow for Detecting Memory Faults in SRAM Devices Under Bit Line Coupling
GDR SOC-SIP'11 : Colloque GDR SoC-SiP (Lyon, France)
15/06/2011
Indicateurs
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