Optical characterization of p-type 4H-SiC epilayers

Acte de colloque

Gediminas Liaugaudas, Donatas Dargis, Pawel Kwasnicki, Herve Peyre, Roxana Arvinte, Sandrine Juillaguet, Marcin Zielinski et Kestutis Jarašiunas

Material Sciences Forum, (821-823), pp.249-252

ECSCRM (Miyasaki, Japan, 29/10/2014)

2015

Résumé

Optical characterization of p-type 4H-SiC epilayers

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Titre: Optical characterization of p-type 4H-SiC epilayers
Créateurs - sans rôle: Gediminas Liaugaudas
Donatas Dargis
Pawel Kwasnicki
Herve Peyre - Université de Montpellier, Laboratoire Charles Coulomb - L2C
Roxana Arvinte
Sandrine Juillaguet - Université de Montpellier, Laboratoire Charles Coulomb - L2C
Marcin Zielinski - NOVASiC (France)
Kestutis Jarašiunas
Détails de publication: Material Sciences Forum, (821-823), pp.249-252
Colloque: ECSCRM (Miyasaki, Japan, 29/10/2014)
Identifiants: 9936690409311
Unité académique: Laboratoire Charles Coulomb - L2C
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-01935527