- Titre
- Optical and structural characterization of electron beam ZnO thin films evaporated for sensors applications
- Créateurs - sans rôle
- Roy Al Asmar - Esprit (Slovakia)Jean-Louis Sauvajol - Université de Montpellier, Laboratoire Charles Coulomb - L2CFrédérique Pascal-Delannoy - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierSandrine Juillaguet - Groupe d'étude des semiconducteursPhilippe Combette - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierAlain Foucaran - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
- Colloque
- EUSPEN, 5th international conference (Montpellier, France, 08/05/2005–11/05/2005)
- Identifiants
- 9937214809311
- Unité académique
- Laboratoire Charles Coulomb - L2C
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01796894
Acte de colloque
Optical and structural characterization of electron beam ZnO thin films evaporated for sensors applications
EUSPEN, 5th international conference (Montpellier, France, 08/05/2005–11/05/2005)
Indicateurs
1 Consultations de la notice