- Titre
- On the Use of the Thermal Step Method as a Tool for Characterizing Thin Layers and structures for Micro and Nano-electronics
- Créateurs - sans rôle
- Petru Notingher - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierS. Agnel - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierO. Fruchier - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierA. Toureille - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierF. OdiotB. Rousset
- Colloque
- 4th Intl. Workshop « Materials for Electotechnics » (Bucarest, Romania, 2004)
- Identifiants
- 9944951609311
- Unité académique
- Université de Montpellier
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01881054
Acte de colloque
On the Use of the Thermal Step Method as a Tool for Characterizing Thin Layers and structures for Micro and Nano-electronics
4th Intl. Workshop « Materials for Electotechnics » (Bucarest, Romania, 2004)
Indicateurs
1 Consultations de la notice