- Titre
- On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive operating area determination
- Créateurs - sans rôle
- A. Privat - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Michez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Bourdarie - ONERA - The French Aerospace Lab [Toulouse]J.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESN. Chatry - TRAD [Labège]G. Chaumont - STMicroelectronicsE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesF. BezerraF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 50th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Paris, France, 2014)
- Identifiants
- 9945192809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01824688
Acte de colloque
On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive operating area determination
50th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference (Paris, France, 2014)
Indicateurs
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