- Titre
- On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing
- Créateurs - sans rôle
- Norbert Dumas - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLaurent Latorre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.118-122
- Colloque
- LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop (Cartagena, Spain, 08/03/2004–10/03/2004)
- Identifiants
- 9944851209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108651
Acte de colloque
On the Use of Electrical Stimuli for MEMS Testing
LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop, pp.118-122
LATW'04: 5th IEEE Latin American Test Workshop (Cartagena, Spain, 08/03/2004–10/03/2004)
2004
Indicateurs
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