- Titre
- On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor
- Créateurs - sans rôle
- Olivier Leman - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLaurent Latorre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFrédérick Mailly - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPascal Nouet - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, pp.29-34
- Colloque
- LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop (Buenos Aires, Argentina, 26/03/2006–29/03/2006)
- Identifiants
- 9944557809311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00102750
Acte de colloque
On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor
LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, pp.29-34
LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop (Buenos Aires, Argentina, 26/03/2006–29/03/2006)
2006
Indicateurs
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