- Titre
- On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors
- Créateurs - sans rôle
- Mariane Comte - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Bernard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.198-203
- Colloque
- LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003–19/02/2003)
- Identifiants
- 99152980309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269498
Acte de colloque
On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors
4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.198-203
LATW: Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003–19/02/2003)
2003
Indicateurs
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