- Titre
- On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers
- Créateurs - sans rôle
- Marie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesRégis Poirier - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, pp.275-280
- Colloque
- DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications (Perth (Australia), 28/01/2004–30/01/2004)
- Identifiants
- 99151682309311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00108832
Acte de colloque
On Using Test Vector Differences for Reducing Test Pin Numbers
DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, pp.275-280
DELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications (Perth (Australia), 28/01/2004–30/01/2004)
2004
Indicateurs
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