- Titre
- On Using Efficient Test Sequences for BIST
- Créateurs - sans rôle
- René M. G. David - Laboratoire d'automatique de GrenoblePatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- 20th IEEE VLSI Test Symposium, pp.145-150
- Colloque
- VTS: VLSI Test Symposium (Monterey, CA, United States, 2002)
- Identifiants
- 99150692209311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00268499
Acte de colloque
On Using Efficient Test Sequences for BIST
20th IEEE VLSI Test Symposium, pp.145-150
VTS: VLSI Test Symposium (Monterey, CA, United States, 2002)
2002
Indicateurs
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