On Using Cell-Aware Models for Testing SRAM Memories

Acte de colloque

Xhesila Xhafa, Aymen Ladhar, Eric Faehn, Lorena Anghel, Gregory Di Pendina, Patrick Girard et Arnaud Virazel

17e Colloque National du GDR SoC² (Lyon, France, 12/06/2023–14/06/2023)

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Titre: On Using Cell-Aware Models for Testing SRAM Memories
Créateurs - sans rôle: Xhesila Xhafa - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Aymen Ladhar - STMicroelectronics [Crolles]
Eric Faehn - STMicroelectronics
Lorena Anghel - Spintronique et Technologie des Composants
Gregory Di Pendina - Spintronique et Technologie des Composants
Patrick Girard - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Arnaud Virazel - Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Colloque: 17e Colloque National du GDR SoC² (Lyon, France, 12/06/2023–14/06/2023)
Identifiants: 99208117009311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: Anglais
Type de ressource: Acte de colloque
Champs locaux: lirmm-05568571