- Titre
- On Using Address Scrambling to Implement Defect Tolerance in SRAMs
- Créateurs - sans rôle
- Renan Alves Fonseca - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMLuigi Dilillo - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesAlberto Bosio - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesPatrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSerge Pravossoudovitch - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesArnaud Virazel - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesNabil Badereddine - Infineon Technologies France
- Colloque
- ITC'2011: International Test Conference (Anaheim, CA, United States, 18/09/2011–23/09/2011)
- Identifiants
- 9942191109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00647773
Acte de colloque
On Using Address Scrambling to Implement Defect Tolerance in SRAMs
ITC'2011: International Test Conference (Anaheim, CA, United States, 18/09/2011–23/09/2011)
2011
Indicateurs
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