- Titre
- On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise
- Créateurs - sans rôle
- Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesLaurent Larguier - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMichel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, pp.11-16
- Colloque
- LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop (Puebla, Mexico)
- Identifiants
- 9944985709311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00260194
Acte de colloque
On-Chip Monitor for the Detection of Logic Errors due to Simultaneous Switching Noise
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop, pp.11-16
LATW'08: 9th Latin-American Test Workshop (Puebla, Mexico)
17/02/2008
Indicateurs
1 Consultations de la notice