OBIST Applied to FPAAs: A Case Study

Acte de colloque

Michel Renovell, Tiago R. Balen, M. Schreiber, Florence Azaïs et Marcelo Lubaszewski

LATW 2003 - 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.238-243

LATW 2003 - 4th IEEE Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003–19/02/2003)

2003

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Titre: OBIST Applied to FPAAs: A Case Study
Créateurs - sans rôle: Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Tiago R. Balen - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
M. Schreiber
Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Marcelo Lubaszewski - Departamento de Engenharia Eletrica
Détails de publication: LATW 2003 - 4th IEEE Latin American Test Workshop, pp.238-243
Colloque: LATW 2003 - 4th IEEE Latin American Test Workshop (Natal, Brazil, 16/02/2003–19/02/2003)
Identifiants: 99152853609311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: lirmm-00269501