- Titre
- Non-ionizing energy loss: an additional wear-out mechanism in latent reliability degradation
- Créateurs - sans rôle
- M. Naceur - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Privat - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Radiations et composantsJean-Roch Vaillé - Radiations et composantsEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesF. Bezerra - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrésG. Chaumont - STMicroelectronicsN. ChatryC. ChatryFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- IEEE RADECS 2012 (Biarritz, France, 2012)
- Identifiants
- 99116047509311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01824359
Acte de colloque
Non-ionizing energy loss: an additional wear-out mechanism in latent reliability degradation
IEEE RADECS 2012 (Biarritz, France, 2012)
Indicateurs
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