- Titre
- Non-destructive electric charge measurements in microelectronic components: state of the art and future trends
- Créateurs - sans rôle
- P. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESO. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. SalaméS. BaudonG. Dagher - Institut National de la Santé et de la Recherche MédicaleL. Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 8th Conference on the French Society of Electrostatics SFE (Cherbourg, France, 2012)
- Identifiants
- 9947707809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01882796
Acte de colloque
Non-destructive electric charge measurements in microelectronic components: state of the art and future trends
8th Conference on the French Society of Electrostatics SFE (Cherbourg, France, 2012)
Indicateurs
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