- Titre
- Non-destructive electric charge measurements in microelectronic components : state of the art and future trends
- Créateurs - sans rôle
- P. Notingher - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Hole - Laboratoire des Instruments et Systèmes d'Ile de FranceO. Fruchier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. SalaméS. BaudonG. DahgerL. Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Agnel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- 8ème conférence de la Société Francaise d''Electrostatique SFE 2012 (Cherbourg, France, 2012)
- Identifiants
- 99150487309311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01910066
Acte de colloque
Non-destructive electric charge measurements in microelectronic components : state of the art and future trends
8ème conférence de la Société Francaise d''Electrostatique SFE 2012 (Cherbourg, France, 2012)
Indicateurs
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