- Titre
- Non-Linear and Non-Split Transistor MOS Model for Gate Oxyde Short
- Créateurs - sans rôle
- Michel Renovell - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesJean-Marc J.-M. Galliere - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMMFlorence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesYves Bertrand - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Détails de publication
- IEEE International Workshop on Defect Based Testing, pp.11-16
- Colloque
- DBT: Defect Based Testing (Monterey, CA, United States, 28/04/2002)
- Identifiants
- 9942406009311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- lirmm-00269333
Acte de colloque
Non-Linear and Non-Split Transistor MOS Model for Gate Oxyde Short
IEEE International Workshop on Defect Based Testing, pp.11-16
DBT: Defect Based Testing (Monterey, CA, United States, 28/04/2002)
2002
Indicateurs
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