New scanning probe microscopy near-field imaging method for laser radiation intensity mapping

Acte de colloque

P. A. Alekseev, M. S. Dunaevskiy, A. M. Monahov, A. N. Titkov, A. N. Baranov, Pascal Girard et R. Teissier

Laser Optics 2014 (St. Petersburg, Russia, 2014)

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Titre: New scanning probe microscopy near-field imaging method for laser radiation intensity mapping
Créateurs - sans rôle: P. A. Alekseev - Kurchatov Institute
M. S. Dunaevskiy
A. M. Monahov
A. N. Titkov
A. N. Baranov - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Pascal Girard - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
R. Teissier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Colloque: Laser Optics 2014 (St. Petersburg, Russia, 2014)
Identifiants: 99151996909311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Conference proceeding
Champs locaux: hal-01903496