- Titre
- Neutrons-induced IGBT Failure: Effects of the Number of Tested Devices on the Cross Section Calculation
- Créateurs - sans rôle
- Antoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESL. Foro - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESK. Guetarni - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Colloque
- IEEE RADECS 2012 (Biarritz, France, 2012)
- Identifiants
- 9947007409311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Conference proceeding
- Champs locaux
- hal-01824319
Acte de colloque
Neutrons-induced IGBT Failure: Effects of the Number of Tested Devices on the Cross Section Calculation
IEEE RADECS 2012 (Biarritz, France, 2012)
Indicateurs
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